用途:白光干涉儀是一種新型的表面形貌測量設(shè)備，主要用于獲得材料表面的粗糙度、波紋度、翹曲度、自相關(guān)函數(shù)、承載曲線、輪廓線提取等三維特征參數(shù)。以及對材料表面形貌的三維測量，包括:水平尺寸、高度、面積、體積、缺陷深度、曲率半徑、傾斜角、柵線分析等。

型號:ContourX-100、ContourX-200、

ContourX-500、Contour GT等

基本參數(shù):

●垂直測量范圍:0.1 nm 至 10 mm

●垂直分辨率:<0.1 nm

●水平分辨率:0.5 um

●XY樣品臺尺寸:150 mm (6in.)

●樣品臺移動范圍:150 mm (XY軸)/100 mm(Z軸)

●物鏡:2.5X、5X、10X、20X、50x、115X

技術(shù)優(yōu)勢:

●專利設(shè)計LED雙光源設(shè)計(白光、綠光)

●PSI，VSI，USI測試模式，滿足絕大部分樣品測試需求

●獨有的圖像拼接功能

●多種縫合模式

●獨具一格的鏡頭調(diào)整水平設(shè)計

●TTM鏡頭:直接透過透明介質(zhì)測量介質(zhì)下面的產(chǎn)品形貌